超聲波探傷儀檢測方法按探頭數目介紹

單探頭檢測法

超聲波探傷儀使用一個探頭兼作發射和接收超聲波的檢測方法稱為單探頭法。單探頭法操作方便，可查出大多數缺陷，是目前最常用的一種檢測方法。

單探頭法檢測，對于與波束軸線垂直的面狀缺陷和立體型缺陷的查出效果最好。與波束軸線平行的面狀缺陷難以查出。當缺陷與波束軸線傾斜時，則根據傾斜角度的大小，能夠受到部分回波或者因反射波束全部反射在探頭之外而無法查出。

雙探頭檢測法

超聲波探傷儀使用兩個探頭（一個發射，一個接收）進行檢測的方法稱為雙探頭法。主要用于發現單探頭無法查出的缺陷。

雙探頭法又可根據兩個探頭排列方式和工作方式，進一步分為并列式、V形串列式、K形串列式、交叉式等。

交叉式：兩個探頭軸線交叉，交叉點為要檢測的部位，此種檢測方法可用來發現與檢測面垂直的面狀缺陷，在焊縫檢測中，常用來發現橫向缺陷。

串列式：兩個探頭一前一后，以相同方向放置在同一便面上，一個探頭發射的聲波被缺陷反射，反射的回波經底面反射進入另一個探頭，此種檢測方法用來發現與檢測面垂直的片狀缺陷。這種檢測方法的特點是，不論缺陷是出在焊縫的上部、中部、或根部，其缺陷聲程始終相等，從而缺陷信號在熒光屏上的水平位置固定不變：上、下表面存在的盲區；兩個探頭在一個表面上沿相反的方向移動，用手工操作較困難，需要設計專用的掃查裝置。

并列式：兩個探頭并列放置，檢測時兩者作同步同向移動。但直探頭作并列放置時，通常是一個探頭固定，另一個探頭移動，以便發現與檢測面傾斜的缺陷。雙晶探頭的原理，就是將兩個并列的探頭組合在一起，具有較高的分辨力和信噪比，適用于薄工件、近表面缺陷的檢測。

K形串列式：兩探頭以相同的方向分別放置于工件的上下表面上。一個探頭發射的聲波被缺陷反射，反射的回波進入另一個探頭，此種檢測方法主要用來發現與檢測面垂直的面狀缺陷。

V形串列式：兩探頭相對放置在同一面上，一個探頭發射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個探頭的入射點上，此種檢測方式主要用來發現與檢測面平行的面狀缺陷。

多探頭檢測法

超聲波探傷儀使用兩個以上的探頭組合在一起進行檢測的方法，稱為多探頭法。多探頭法的應用，主要是通過增加聲束來提高檢測速度或發現各種取向的缺陷，通常與多通道自動探傷設備配合。