超聲波探傷中A掃描B掃描C掃描有哪些不同

在工業(yè)金屬生產(chǎn)過程中，為了確保材料的質(zhì)量，無(wú)損探傷是必不可少的一種技術(shù)，它能夠在不破壞被檢測(cè)對(duì)象的前提下，檢測(cè)其內(nèi)部或表面的缺陷，為產(chǎn)品質(zhì)量提供保障。

超聲波無(wú)損探傷，顧名思義，就是在不損壞工件的前提下，對(duì)工件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。它廣泛應(yīng)用于板材、管材、棒材、氣瓶等生產(chǎn)廠家和加工廠家。

超聲波探傷原理

超聲波探傷，憑借其高靈敏度、高穿透性、對(duì)人體無(wú)害、檢測(cè)速度快和成本低等顯著優(yōu)勢(shì)，在無(wú)損探傷領(lǐng)域占據(jù)著重要地位。它利用超聲波在材料中的傳播特性，通過分析超聲波與材料相互作用產(chǎn)生的反射波、折射波等信息，來(lái)檢測(cè)材料內(nèi)部是否存在缺陷，并確定缺陷的位置、大小和形狀等參數(shù)。

超聲波探傷常見幾種掃描方式

在超聲波探傷技術(shù)中，A掃描、B掃描和C掃描是三種常用的檢測(cè)方式，它們各自具有獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。

超聲波A掃描介紹：

A掃描是一種基礎(chǔ)的超聲波探傷顯示方式。在A掃描中，顯示器的橫坐標(biāo)代表超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或傳播距離，縱坐標(biāo)則表示超聲波反射波的幅值。當(dāng)超聲波在均勻的材料中傳播時(shí)，如果遇到缺陷，由于缺陷與周圍材料的聲阻抗不同，就會(huì)發(fā)生反射。反射回來(lái)的超聲波被探頭接收，在屏幕上以波形的形式呈現(xiàn)出來(lái)。便攜式超聲波探傷儀屏幕上顯示的波形就是A掃描。

在檢測(cè)一個(gè)金屬工件時(shí)，若工件內(nèi)部存在裂紋、氣孔等缺陷，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這些缺陷時(shí)，就會(huì)在缺陷處產(chǎn)生反射波。反射波在屏幕橫坐標(biāo)上對(duì)應(yīng)的位置，反映了缺陷在工件中的深度；而縱坐標(biāo)上反射波的幅值大小，則與缺陷的大小、性質(zhì)等因素相關(guān)。一般來(lái)說(shuō)，缺陷越大，反射波的幅值越高。通過分析這些反射波的波形、幅值和出現(xiàn)的時(shí)間等信息，探傷人員可以初步判斷缺陷的存在與否、缺陷的深度以及大致的大小等情況。

超聲波B掃描介紹：

B掃描是一種將超聲波探傷信息以二維圖像形式展示的技術(shù)。它的工作原理基于對(duì)多條探測(cè)信息的綜合處理。在B掃描中，橫坐標(biāo)代表探頭在被檢測(cè)工件表面的掃描軌跡，而縱坐標(biāo)則表示超聲波在工件中傳播的時(shí)間，這個(gè)時(shí)間與超聲波傳播的深度密切相關(guān)。

具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)探頭沿著工件表面進(jìn)行掃描時(shí)，會(huì)不斷發(fā)射超聲波并接收反射波。每一個(gè)探測(cè)點(diǎn)的反射波信號(hào)都會(huì)被記錄下來(lái)，根據(jù)反射波返回的時(shí)間，確定其在縱坐標(biāo)上的位置，而探頭在該時(shí)刻的掃描位置則對(duì)應(yīng)橫坐標(biāo)。通過對(duì)一系列探測(cè)點(diǎn)的信號(hào)進(jìn)行處理和輝度調(diào)制，將反射波信號(hào)的強(qiáng)弱轉(zhuǎn)化為圖像中像素的亮度，最終將這些點(diǎn)組合起來(lái)，形成一幅與聲速傳播方向平行且與工件測(cè)量表面垂直的剖面圖像。例如，在檢測(cè)一個(gè)大型金屬鑄件時(shí)，探頭在鑄件表面逐行掃描，將每一行的探測(cè)信息進(jìn)行整合，就可以得到該鑄件內(nèi)部某一縱向截面的圖像，清晰地展示出該截面內(nèi)材料的結(jié)構(gòu)和可能存在的缺陷情況。

超聲波C掃描介紹：

C掃描它是對(duì)某一深度的截面進(jìn)行掃描，呈現(xiàn)的是二維平面內(nèi)移動(dòng)并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號(hào)成像，主要用于展示水平截面的缺陷信息。在C掃描中，儀器示波屏代表被檢工件的投影面。其工作過程是，當(dāng)探頭在工件表面進(jìn)行二維掃描時(shí)，會(huì)發(fā)射超聲波并接收反射波。通過設(shè)置特定的時(shí)間閘門，選取特定深度處的反射波信號(hào)，將這些信號(hào)的幅值信息轉(zhuǎn)化為圖像上的像素亮度或顏色信息。例如，在檢測(cè)一個(gè)多層復(fù)合材料結(jié)構(gòu)時(shí)，通過C掃描可以清晰地顯示出某一層內(nèi)部的缺陷分布情況。假設(shè)復(fù)合材料有三層，我們想要檢測(cè)中間層的缺陷，就可以通過調(diào)整時(shí)間閘門，只獲取對(duì)應(yīng)中間層深度位置的反射波信號(hào)，然后將這些信號(hào)處理成圖像，從而得到中間層的缺陷水平投影圖像，直觀地展示出該層中缺陷的位置和大致形狀。